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由于應用越來越廣泛,各種類型的光譜儀也越來越追求提高分析的準確性。我們還需要仔細分析x射線熒光分析過程中的錯誤,并盡量避免導致錯誤的相關因素。
一般來說,光譜儀誤差的主要原因是操作、儀器、樣品本身等。
例如,研磨時間和壓力沒有設置,不能滿足研磨粒度或相應的材料分布的要求,或壓片板(或壓片頭)不干凈,導致分析表面不光滑,從而影響測量結果。
隨著時間的延長,X射管內部元件的尺寸和位置的變化也會導致初級X射線強度的變化,或者X射線管的陽極有斑點,目標元素沉積在窗口中,給分析結果帶來誤差。
此外,測量結果的誤差是由于試樣的不均勻性效應、基體效應和譜線干擾因素造成的。
要避免這些錯誤,需要做的幾點措施是:
1.應對樣品進行研磨和壓實,以減少樣品的不均勻性。
2.選擇無干擾的光譜線。降低電壓至干擾元素的激發電壓,選擇合適的分光晶體、計數器、準直器或調整脈沖高度分析器、提高分辨率能力,在分析晶體和探測器之間放置濾光器,過濾或削弱干擾光譜線。
3.嚴格按照儀器設備管理辦法安裝,調試好儀器設備,避免出現儀器誤差。
4.嚴格按照操作規程操作,避免人為操作錯誤。
做到以上幾點,你的光譜儀就能達到高分析精度,效果好。
那么以上就是有關如何調整光譜儀分析精度的介紹了,有需求請聯系我們~